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晶圓片在線面掃檢測儀(WaferSurfaceInspectionSystem)是一種先進(jìn)的設(shè)備，用于在線檢測半導(dǎo)體晶圓片的表面缺陷和質(zhì)量問題。它通過高速的光學(xué)成像技術(shù)和精確的圖像處理算法，能夠快速、準(zhǔn)確地識別和記錄晶圓上的缺陷，為半導(dǎo)體制造業(yè)提供高質(zhì)量的生產(chǎn)保障。晶圓片是半導(dǎo)體芯片制造的重要基材。然而，由于制程和環(huán)境等因素，晶圓片上可能存在各種缺陷，如劃痕、缺陷、污染和顆粒等。這些缺陷可能對半導(dǎo)體的性能和可靠性產(chǎn)生重大影響。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率，晶圓片表面的檢測和篩選...

隨著科技的進(jìn)步和發(fā)展，人類對于探索微觀世界的渴望越來越強(qiáng)烈。在這個(gè)過程中，X射線三維顯微鏡(X-ray3DMicroscopy)成為了一款引人注目的工具。它擁有獨(dú)特的能力，能夠深入物質(zhì)內(nèi)部，將微觀結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)在我們眼前。X射線三維顯微鏡的工作原理基于X射線探測技術(shù)。當(dāng)物體被照射時(shí)，內(nèi)部的原子與分子會(huì)散射出X射線。通過捕捉和記錄這些散射信號，三維顯微鏡可以重建出物體的三維模型。相比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，三維顯微鏡具有更高的分辨率和穿透能力。三維顯微鏡在許多領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。在材料科學(xué)中，...

前言2023年12月14-15日“布魯克X射線衍射儀用戶交流及TOPAS高級培訓(xùn)會(huì)”在束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司旗下倫琴實(shí)驗(yàn)室圓滿召開。本次培訓(xùn)會(huì)由布魯克AXS主辦、束蘊(yùn)儀器&倫琴實(shí)驗(yàn)室承辦，共吸引了60余位新老用戶報(bào)名，會(huì)議由布魯克AXS和倫琴實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用專業(yè)做了精彩的報(bào)告分享，并針對性的為用戶使用過程中遇到的問題進(jìn)行答疑，為期兩天的培訓(xùn)會(huì)充實(shí)而精彩，與客戶搭建了更加密切的交流與合作的橋梁-期待我們下次再見！PART.1會(huì)議精彩回顧本次培訓(xùn)內(nèi)容：1）布魯克D6PHASER衍射...

會(huì)議介紹布魯克X射線上海用戶交流及TOPAS高級培訓(xùn)會(huì)”茲定于12月14-15日在束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司倫琴實(shí)驗(yàn)室舉行！屆時(shí)布魯克XRD應(yīng)用工程師將做技術(shù)應(yīng)用、布魯克公司新的技術(shù)的發(fā)展等報(bào)告。我們熱忱地邀請上海及周邊XRD用戶踴躍參加本次會(huì)議。本次交流會(huì)不收取任何費(fèi)用，會(huì)議期間的差旅費(fèi)用、住宿費(fèi)自理。會(huì)議時(shí)間2023年12月14-15日會(huì)議地點(diǎn)束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司2層一號會(huì)議室（上海市松江區(qū)莘磚公路518號11號樓）報(bào)名方式掃描報(bào)名（1個(gè)微信號只能填寫1人信息）報(bào)名費(fèi)用...

X射線顯微成像系統(tǒng)是一種重要的科學(xué)工具，通過利用X射線的特性，可以窺探微觀世界的奧秘。它在醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用，為科學(xué)研究和醫(yī)學(xué)診斷提供了強(qiáng)大的支持。該顯微成像系統(tǒng)基于X射線的原理工作。當(dāng)X射線穿過物質(zhì)時(shí)，會(huì)與物質(zhì)內(nèi)部的原子相互作用，產(chǎn)生散射或吸收現(xiàn)象。這些散射和吸收信息可以被捕獲并轉(zhuǎn)化為圖像。顯微成像系統(tǒng)由X射線源、樣品臺、探測器和圖像處理系統(tǒng)組成。X射線源是產(chǎn)生X射線的關(guān)鍵部件。常用的X射線源包括X射線管和同步輻射源。X射線經(jīng)過樣品后，會(huì)進(jìn)入探測器進(jìn)...

高分辨X射線顯微鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，利用X射線來觀察物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和組成。它在科學(xué)研究、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價(jià)值。X射線顯微鏡的工作原理基于X射線與物質(zhì)相互作用的特性。當(dāng)X射線束通過樣品時(shí)，它們會(huì)被樣品中的原子吸收或散射。通過檢測和分析這些被散射或吸收的X射線，可以獲得關(guān)于樣品的豐富信息。相比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，X射線顯微鏡具有更高的分辨率和穿透力。由于X射線具有比可見光更短的波長，因此X射線顯微鏡可以解析出更小的細(xì)節(jié)，對于觀察納米級別的結(jié)構(gòu)非常有優(yōu)勢。此...

X射線顯微成像系統(tǒng)是一種重要的科學(xué)工具，它為我們提供了窺視微觀世界的窗口。通過利用X射線的特性，這一技術(shù)能夠以驚人的分辨率和細(xì)節(jié)呈現(xiàn)物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。X射線顯微成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分是X射線源和探測器。X射線源產(chǎn)生高能量的X射線，這些X射線穿透待檢測樣品并與其相互作用。不同材料對X射線的吸收和散射程度不同，從而形成了顯著的對比。探測器記錄下這些相互作用事件，并將其轉(zhuǎn)化為圖像。該顯微成像系統(tǒng)在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。在材料科學(xué)中，它可以幫助研究者觀察納米尺度下的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷和界面;...

國際衍射數(shù)據(jù)中心（ICDD）自1941年發(fā)行標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片數(shù)據(jù)庫（PDF數(shù)據(jù)庫）至今已有80多年的歷史，PDF數(shù)據(jù)庫是目前分析粉末XRD數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)庫，結(jié)合JADEPro或JADEStandard軟件可實(shí)現(xiàn)結(jié)晶材料、半結(jié)晶材料的物相鑒定和定量分析，也可與主流的XRD設(shè)備配套的軟件兼容。束蘊(yùn)儀器是國際衍射數(shù)據(jù)中心的授權(quán)代理商，為客戶提供新版PDF數(shù)據(jù)庫銷售與技術(shù)支持！//////////PDF數(shù)據(jù)庫獲得ISO認(rèn)證晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫粉末衍射和單晶結(jié)構(gòu)的綜合數(shù)據(jù)庫值得信賴的衍射數(shù)據(jù)庫...